近日，华中地区高校首台飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）正式通过验收，交付使用！该台仪器（PHI nano TOF 3）由武汉理工大学材料复合新技术国家重点实验室麦立强教授团队于2021年底采购，历经波折于困难的2022疫情之年年底到货，近日完成安装调试，通过验收。
PHI工程师正在对武汉理工大学的老师进行培训
飞行时间二次离子质谱仪（Time of Flight-Secondary Ion Mass Spectrometer 简称ToF-SIMS），使用一次脉冲离子轰击固体材料表面，通过表面激发出的二次离子的飞行时间测量其质量，以表征材料表面的元素成分、分子结构、分子键接等信息。
· 可以分析所有的导体，半导体，绝缘材料
· TOF-SIMS的分析深度2nm左右，横向空间分辨率可达50nm,
· 能表征原子和分子组分，适用于有机和无机物的分析
· 能测试所有元素（H~U）及其同位素
· 能鉴别高质量数的有机大分子
· 探测灵敏度很高，可以达到ppb量级
· 2D和3D表征成分的分布：对于材料表面成分及分布，表面多层结构/镀膜成分，表面异物残留(污染物、颗粒物、腐蚀物等)，表面痕量掺杂，表面改性，表面缺陷（划痕、凸起等）等有很好的表征能力。
TOF-SIMS被广泛应用于各种材料开发，材料剖析，多层薄膜/结构剖析与失效机理的分析和研究，具有不可替代的作用。
研发领域：能源电池材料、半导体器件、纳米器件、生物医药、量子结构等
高新技术：高分子材料、金属、半导体、玻璃陶瓷、纳米镀层、纸张、薄膜、纤维等
PHI CHINA（高德英特（北京）科技有限公司）表示，非常期待该台设备能够助力麦立强教授团队在相关科研领域取得更大的成就！将以最好的服务和最专业的技术支持为用户提供帮助！
图源：PHI高德英特公众号
供稿：封文聪
编辑：封文聪